更新時(shí)間:2017-07-11
C測試儀3504-50LCR封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷● 對應(yīng)測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試● 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤,提高成品率
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測量參數(shù) | Cs,Cp(電容),D(損耗系數(shù)tanδ) |
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測量范圍 | C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00001~1.99000 |
基本精度 | (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數(shù) |
測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
測量信號電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) |
輸出電阻 | 5Ω(CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時(shí)) |
顯示 | 發(fā)光二級管 (6位表示,滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定) |
測量時(shí)間 | 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST) ※測量時(shí)間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同 |
功能 | BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外) |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, zui大110VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 | 電源線×1,預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1,使用說明書×1 |
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